使用 kselftest 進行裝置測試

有幾種不同的 kselftest 可用於通用裝置測試，它們在覆蓋範圍上有所重疊，並且有不同的要求。本文件旨在概述每種測試。

注意：本文件中的路徑是相對於 kselftest 資料夾（tools/testing/selftests）的。

面向裝置的 kselftest

• 裝置樹（dt）

  • 覆蓋範圍：裝置樹中描述的裝置的探測狀態

  • 要求：無

• 錯誤日誌（devices/error_logs）

  • 覆蓋範圍：來自任何裝置的錯誤（或更關鍵的）日誌訊息是否存在

  • 要求：無

• 可發現匯流排（devices/probe）

  • 覆蓋範圍：在參考檔案中描述的 USB 或 PCI 裝置是否存在及探測狀態

  • 要求：在 YAML 參考檔案中手動描述應測試的裝置（參見devices/probe/boards/google,spherion.yaml以獲取示例）

• 存在（devices/exist）

  • 覆蓋範圍：所有裝置是否存在

  • 要求：在已知良好的核心上生成參考檔案（詳情請參見devices/exist/README.rst）

因此，建議在所有（基於 DT 的）平臺上啟用錯誤日誌和裝置樹測試，因為它們沒有任何要求。然後，為了大大提高覆蓋率，為每個平臺生成參考檔案並啟用存在性測試。可發現匯流排測試可用於驗證特定 USB 或 PCI 裝置的探測狀態，但在大多數情況下可能不值得。